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    1. 首頁    鍍層測厚儀    iEDX-150T鍍層測厚儀
      150T
      創建時間:2018-05-21 17:00
      瀏覽量:0

      iEDX-150T鍍層測厚儀

      ISP iEDX-150T鍍層測厚儀;
      采用非真空樣品腔;
      專業用于PCB電鍍鍍層分析、PCB鍍層厚度測量及金屬電鍍鍍層分析;
      采用多種光譜擬合分析處理技術;
      可增加合金成份分析及RoHS功能。

      善時儀器

      手  機: 18589082047

      電     話 :  0755-23347785

      傳  真: 0755-27205042

      郵    箱: sales@sense.cc

      地  址: 深圳市寶安區新橋街道沙企社區中心路18號高盛大廈12樓

       

      應用領域

       iEDX-150T鍍層測厚儀應用于金屬電鍍鍍層分析領域;

       

      技術指標

      多鍍層分析,1~5層;

      測試精度:0.001 μm;

      元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U);

      測量時間:10~30秒;

      SDD探測器,能量分辨率為125±5eV;

      探測器Be窗0.5mil(12.7μm);

      微焦X射線管50kV/1mA,鉬,銠靶(高配微焦鉬靶);

      6個準直器及多個濾光片自動切換;

       XYZ三維移動平臺,MAX荷載為5公斤;

       高清CCD攝像頭(200萬像素),準確監控位置;

      多變量非線性去卷積曲線擬合;

      高性能FP/MLSQ分析;

      儀器尺寸:618×525×490mm;

      樣品臺尺寸:250×220mm;

      樣品臺移動范圍:前后左右各80mm、高度90mm。

       

      圖譜界面

      軟件支持無標樣分析;

      寬大分析平臺和樣品腔;

      集成了鍍層分析界面和合金成份分析界面;

      采用多種光譜擬合分析處理技術;

      鍍層測厚分析精度可達到0.001μm。

       

      分析報告結果

      直接打印分析報告;
      報告可轉換為PDF,EXCEL格式。

       

      樣品分析圖譜:

       

      150T樣品分析圖譜

       

      測試結果界面:

       

      150T測試結果

       

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      京ICP備xxxxxxxx號
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